首页 ꁇ 光学薄膜量测 ꁇ TFT系列全功能膜厚量测机台

基本配置

可扩展宽波长量测系统
微环境管理系统
图像识别系统
高精度运动平台
可定制型EFEM与FA
半导体认证软件系统
快速量测以满足更高WPH

TFT系列全功能膜厚量测机台

ꄴ前一个：无

ꄲ后一个：无

截屏2022-11-1022.15.32

屏幕快照2019-05-28上午10.38.45

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