发展历程

公司启动筹建

成立 “匠岭半导体(上海)有限公司”

获得凸块晶圆检测试用意向

签约落户常熟国家高新区

成立 “半导体光学量测实验室”

反射谱膜厚量测研发完成技术验收

成立 “江苏匠岭半导体有限公司”

与上海锦天诚律师事务所签署战略合作协议

获得VIA微米缺陷检测正式订单