INSIHGT TO YIELD OPTIMIZATION

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在半导体薄膜和光学线宽量测领域积累的丰富经验,让我们能够帮助不同工艺节点的客户进行半导体工艺流程的分析和优化,最终实现芯片良率提升

 

 

半导体先进制造工艺流程

随着半导体工艺向10纳米以下三维微观结构发展,我们持续研发新世代高性能薄膜量测技术,以帮助客户应对全新工艺控制方面的技术挑战