INSIHGT TO YIELD OPTIMIZATION

Wafer Process Control
Advanced Package
MEMS
Micro-LED

光学缺陷检测

光学缺陷检测技术广泛应用于半导体、平板显示、太阳能等先进制造行业,基于光学和图像处理技术对生产工艺中的表面缺陷进行自动化检测、分析和分类,帮助优化工艺流程和并提高产品良率

 

在半导体光学量测和缺陷检测领域积累的独特经验,让我们能够帮助处于不同工艺水平的半导体客户,分析和优化工艺流程,进而提高芯片良率

 

 

半导体先进制造工艺流程

伴随半导体工艺向I/O更密集、更小型化的方向发展,匠岭根据客户新技术需求,研发高性能3D量测和2D缺陷检测技术,协助客户建立工艺控制标准